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摘要
引言
1.集成电路可测性设计方法
2.数模混合SOC功能和测试要求
3.可测性方案在芯片中的具体实现
4.测试方案的评估
5.结论
参考文献
后记以及致谢
论文独创性声明及论文使用授权声明
雷健飞;
复旦大学;
数模混合芯片; SOC芯片; 可测性设计;
机译:Giga Hertz通用微处理器的可测性设计功能和测试实现
机译:软件解决方案分析可测性和测试范围
机译:基于不满足性的寄存器传输级电路可测性解决方案的高效设计
机译:大型风电和HVDC链路数模混合电力传输数模混合仿真系统
机译:样本压缩方案的紧致性定理的可测性方面
机译:以研究为基础的剧院如何在区域医学校园中实现社区参与和倡导的解决方案:通过倡导研究和剧院(HEART)计划实现健康与公平
机译:基于固定控制可测性的RTL电路DFT方法实现完全故障效率
机译:门阵列集成电路设计可测性方案的评估与实现。最终报告,1984年2月1日至9月30日
机译:SOC芯片和SOC芯片的装订装置
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