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A DFT Method for RTL Circuits to Achieve Complete Fault Efficiency Based on Fixed-control Testability

机译：基于固定控制可测性的RTL电路DFT方法实现完全故障效率

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Satoshi Ohtake; Shintaro Nagai; Hiroki Wada; Hideo Fujiwara;
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年度 2001
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