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90纳米CMOS图像传感器生产工艺优化

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目录

摘要

ABSTRACT

第一章 绪论

1.1 引言

1.2 CMOS图像传感器的优点和发展

第二章 CMOS图像传感器工作原理简介

2.1 光电二极管简介

2.2 CMOS图像传感器的发展

2.3 CMOS图像传感器对生产工艺的要求以及本课题的方向

第三章 90纳米CIS浅沟槽隔离工艺优化

3.1 STI工艺介绍

3.1.1 STI沟槽顶角圆化的提出

3.2 STI沟槽顶角圆化方法

3.2.1 STI干法蚀刻工艺优化

3.2.2 STI Linear Oxide Pre-clean工艺优化

第四章 90纳米CIS工艺层间介质层工艺优化

4.1 层间介质层工艺介绍

4.2 层间介质层工艺优化方法

4.2.1 ILD CMP工艺优化

4.2.2 ILD薄膜淀积工艺优化

第五章 总结和展望

参考文献

致谢

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著录项

  • 作者

    曹建发;

  • 作者单位

    复旦大学;

  • 授予单位 复旦大学;
  • 学科 集成电路工程
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 张卫;
  • 年度 2011
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类
  • 关键词

    纳米; CMOS图像; 传感器; 生产;

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