摘要
ABSTRACT
第一章 绪论
1.1 概述
1.2 AOI自动光学检测系统
1.2.1 AOI产品的现状
1.2.2 AOI的关键技术
1.3 AOI识别检验中存在的问题
1.4 相关工作
1.5 本文的主要工作
第二章 AOI电子零件识别技术研究
2.1 AOI识别软件
2.1.1 AOI识别软件的工作流程
2.1.2 AOI软件的图像预处理
2.1.3 AOI电子零件图像资料库
2.2 电子零件识别算法
2.2.1 单纯灰度匹配零件识别算法
2.2.2 边缘特征匹配零件识别算法
2.2.3 OCR电子零件识别算法
第三章 SIFT尺度不变特征提取
3.1 SIFT特征匹配算法流程
3.1.1 SIFT特征提取的流程
3.1.2 SIFT特征匹配的基本框架
3.2 高斯尺度空间
3.2.1 高斯金字塔
3.2.2 DoG高斯差分尺度空间
3.3 尺度不变特征点
3.3.1 尺度不变特征点的搜索
3.3.2 子像元插值检测
3.3.3 不稳定边缘效应删除
3.4 尺度不变特征描述子
3.4.1 特征点方向的计算
3.4.2 SIFT描述子的生成
3.5 SIFT特征匹配
3.5.1 欧式距离相似度匹配
3.5.2 KD树最邻近查询匹配
第四章 基于SIFT的电子零件识别算法
4.1 SIFT电子零件识别算法的实现
4.1.1 算法的应用特点
4.1.2 识别算法的步骤
4.1.3 识别实验
4.2 性能比较
4.2.1 尺度缩放比较
4.2.2 旋转变化比较
4.2.3 光照变化比较
4.2.4 算法时间效率
第五章 结论
5.1 识别算法的评价
5.2 不足与展望
参考文献
致谢
