嵌入式软件可测试性研究

摘要

嵌入式软件的应用与开发是当今计算机软件发展领域的一个热点，保证嵌入式软件的质量是非常重要的。嵌入式软件的可测试性作为一个软件度量指标，是指软件在任意给定输入集合下进行测试的过程中，错误能够被揭示出来的概率。开展对嵌入式软件可测试性的研究有助于确定嵌入式软件为了达到一定的可靠性而需要被测试的程度，并最合理地分配测试资源，提高测试的效率。而且，可测试性分析也能够用于指导软件设计者合理地设计软件结构，以降低测试的开销以及提高测试的可行性和有效性，从而使软件的可靠性和可信度达到新的水平。 本文针对嵌入式软件可测试性的量化检测给出了一套完整的解决方案。基于软件的故障/失效模型，构建了嵌入式软件可测试性量化检测的SETM理论模型，并设计实现了基于该理论模型的可测试性检测工具。 本文首先介绍了嵌入式系统、嵌入式软件测试和可测试性的基本概念等用于检测软件可测试性的理论基础，并详细分析了一些理论检测模型及各自的优缺点；接下来，针对这些可测试性检测模型中所存在的问题，根据对软件错误导致软件失效过程的研究分析，本文提出了一种改进的解决方案SETM用于对软件的可测试性进行量化检测，文章在最后设计并实现了构建在此SETM模型基础之上的一个软件可测试性检测工具，该工具能够对C源程序进行可测试性检测并得出量化结果数据，验证了该模型的有效性。

目录

文摘

英文文摘

独创性(或创新性)声明和关于论文使用授权的说明

第一章绪论

第二章嵌入式软件可测试性理论基础

第三章嵌入式软件可测试性技术研究

3.1现有PIE模型详细分析

3.2 SETM可测试性检测模型概述

3.3可测试性检测模型基本算法分析

3.4 SETM可测试性计算方法

3.5本章小结

第四章嵌入式软件可测试性检测系统结构设计与实现

第五章结论与展望

致 谢

参考文献

读研期间科研成果