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第一章绪论
1.1 集成电路成品率面临的挑战
1.2 集成电路成品率的研究内容
1.3 本论文的内容与安排
第二章集成电路参数成品率理论基础
2.1 工艺参数误差
2.1.1 工艺参数误差分类
2.1.2 工艺参数误差模型
2.1.3 工艺参数误差数据处理
2.2 电路仿真试验与代理模型
2.2.1 构造电路代理模型的步骤
2.2.2 电路仿真试验设计
2.2.3 响应曲面代理模型
2.3 电路参数成品率计算
2.3.1 基本思想和步骤
2.3.2 蒙特卡罗方法精度与计算量
2.3.3 优缺点与改进措施
2.4 电路参数成品率优化
2.4.1 最坏情况优化法
2.4.2 蒙特卡罗优化法
2.4.3 几何逼近优化法
第三章基于电路代理模型的参数成品率计算
3.1 数学背景知识
3.1.1 器件工艺参数变换
3.1.2 二阶响应曲面模型及其对角化
3.1.3 有关概率密度函数的知识
3.1.4 傅立叶变换
3.2 电路性能指标概率分布计算
3.2.1 概率密度函数的推导
3.2.2 概率密度函数的连续时间傅立叶变换
3.2.3 时限近似与频域采样步长
3.2.4 确定频域采样区间与采样
3.2.5 概率密度函数的时间平移
3.2.6 消除离散傅立叶逆变换的波动效应
3.2.7 建立近似分布函数
3.2.8 算法小结
3.3 数值算例
3.3.1 二阶响应曲面模型族
3.3.2 带隙电压基准源
3.3.3 运算放大器
3.4 本章小结
第四章基于电路代理模型的参数成品率优化
4.1 优化方法思想和原理
4.2 射频放大器的参数成品率优化
4.2.1 成品率优化之前的电路
4.2.2 电路仿真试验与建立代理模型
4.2.3 中心值与敏感度协同优化
4.3 本章小结
第五章结论与展望
致谢
参考文献
研究成果
附录