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目录
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 集成电路成品率
1.3 论文内容安排
第二章 工艺缺陷研究
2.1 缺陷类型
2.2 缺陷模型
2.3 关键面积概念与分类
2.4 本章小结
第三章 数学形态学基本理论
3.1 二值腐蚀和膨胀
3.2 开和闭运算
3.3 击中击不中变换
3.4 细化
第四章 关键面积特征表述和开路关键面积优化算法
4.1 关键面积的提取方法
4.2 本文用到的开路关键面积提取方法
4.3 开路关键面积区域特征描述
4.4 基于产生开路关键面积区域的开路优化算法
4.5 开路关键面积的优化算法比较
第五章 开路灵敏度模型比较与应用
5.1 开路灵敏度模型分析与优缺点
5.2 开路灵敏度模型应用的比较
5.3 开路线网优化算法与开路灵敏度模型的结合应用
第六章 总结与展望
致谢
参考文献
研究成果