声明
摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 薄膜晶体管的应用与研究现状
1.2.1 薄膜晶体管的应用
1.2.2 薄膜晶体管的发展历史
1.2.3 薄膜晶体管的种类
1.2.4 ITZO TFT的研究进展
1.3 薄膜晶体管的结构及工作原理
1.3.1 薄膜晶体管的基本结构
1.3.2 薄膜晶体管的工作原理
1.3.3 薄膜晶体管的电学参数计算
1.4 论文的主要工作
第二章 ITZO TFT的制备表征方法
2.1 ITZO有源层的制备方法
2.1.1 射频磁控溅射设备与原理
2.2 表征方法
2.2.1 ITZO TFT电学性能测试
2.2.2 ITZO薄膜厚度测试
2.2.3 ITZO薄膜结构特性测试
2.2.4 ITZO薄膜光学特性测试
2.2.5 ITZO薄膜电学特性测试
2.3 本章总结
第三章 ITZO TFT的制备
3.1 衬底清洗
3.2 ITZO TFT的制程
3.3 ITZO TFT性能测试
3.4 本章总结
第四章 射频磁控溅射工艺参数对ITZO TFT性能的影响
4.1 溅射功率对ITZO TFT性能的影晌
4.2 不同气压对ITZO TFT性能的影响情况
4.3 氧分压对ITZO TFT性能的影响规律
4.4 本章总结
第五章 有源层厚度对ITZO TFT性能的影响及其稳定性研究
5.1 有源层厚度对ITZO TFT的影响
5.2 ITZO TFT在空气中的稳定性研究
5.3 本章总结
第六章 总结
6.1 主要结果
6.2 创新点
6.3 不足与展望
参考文献
致谢
攻读学位期间发表的学术论文