声明
摘要
1．1自旋电子学
1．2自旋流的产生与探测
1．2．1自旋流
1．2．2自旋霍尔效应
1．2．3逆自旋霍尔效应
1．2．4自旋塞贝克效应
1．2．5自旋塞贝克效应产生机制
1．2．6反常能斯特效应
1．3交换偏置效应
1．4垂直磁各向异性
1．5石榴石型铁氧体
1．5．1石榴石型铁氧体
1．5．2亚铁磁绝缘体自旋流的研究现状
1．6本论文的研究目的及研究内容
2．1磁控溅射仪
2．2样品的表征分析方法
2．2．1X射线衍射仪的基本构造
2．2．2XRD基本理论基础
2．2．3原子力显微镜(AFM)
2．2．4台阶仪(细微形状测定仪)
2．2．5交变梯度样品磁强计(AGM)
2．2．6铁磁共振仪(FMR)
2．2．7自旋塞贝克测量系统
第3章TmIG靶的烧结和表征及薄膜的制备和表征
3．1引言
3．2．1靶材烧结原理
3．2．2硝酸融合烧结法流程
3．3 TmIG靶材表征
3．3．1 TmIG靶材的XRD测试
3．3．2 TmIG靶材的AGM测试
3．4 TmIG薄膜样品生长
3．5．2 TmIG薄膜的AGM测试
3．5．3 TmIG薄膜的AFM测试
3．5．4 TmIG薄膜的磁化动力学测试
3．6本章小结
第4章在YIG／Cu／NiFe／IrMn多层结构中观察到的磁化方向依赖的逆自旋霍尔效应
4．1引言
4．2样品制备
4．3实验结果与讨论
4．3．1 YIG薄膜的结构与磁性表征
4．3．2测量方法
4．3．3旋转磁场下自旋塞贝克信号测量
4．3．4结果讨论
4．4本章小结
第5章总结与展望
5．1本论文的主要工作与取得的成果
5．2本论文的不足之处与工作展望
参考文献
致谢
参加的学术会议及论文发表
