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摘要
第1章绪论
1.2.1薄膜技术简介
1.2.2薄膜的生长
1.3硬质薄膜的发展及分类
1.3.1硬质薄膜的发展
1.3.2硬质薄膜的分类
1.4纳米薄膜技术
1.4.1纳米复合薄膜
1.4.2纳米多层薄膜
1.5硬质膜的制膜方法
1.5.1气相沉积技术概述
1.5.2化学气相沉积(CVD)
1.5.3物理气相沉积(PVD)
1.5.4等离子体技术
1.6 Ti-W-N复合膜及纳米多层膜研究现状
1.7本研究目的意义及主要内容
第2章薄膜的制备与表征
2.1实验原理与实验设备
2.1.1磁控溅射原理
2.1.2镀膜设备
2.2基片的前处理
2.3薄膜结构的表征方法和表征设备
2.3.1 X射线衍射(XRD)
2.3.2扫描电子显微镜(SEM)
2.3.3能量色散谱仪(EDS)
2.3.4透射电子显微镜(TEM)
2.4薄膜性能的表征方法和表征设备
2.4.1维氏显微硬度测试仪
2.4.2划痕仪
2.4.3摩擦磨损试验机
2.4.4电化学工作站
第3章W-N单层膜的制备及性能研究
3.1 W-N单层膜的制备工艺
3.2 W-N单层膜的断口形貌分析
3.3不同氮氩流量比下W-N单层膜的EDS分析
3.4不同氮氩流量比下W-N单层膜的XRD分析
3.5氮氩流量比对W-N单层膜性能的影响
3.5.1氮氩流量比对W-N薄膜显微硬度的影响
3.5.2氮氩流量比对W-N薄膜结合力的影响
3.5.3氮氩流量比对W-N薄膜摩擦系数的影响
3.6溅射功率比对W-N单层膜力学性能的影响
3.6.1溅射功率对W-N薄膜显微硬度的影响
3.6.2溅射功率对W-N薄膜结合力的影响
3.7本章小结
第4章Ti-W-N复合膜的制备及性能研究
4.2.1钨含量对Ti-W-N复合膜XRD的影响
4.2.2 N2流量对Ti-W-N复合膜XRD的影响
4.2.3温度对Ti-W-N复合膜XRD的影响
4.3 Ti-W-N复合膜的表面形貌分析
4.3.1钨含量对Ti-W-N复合膜表面形貌的影响
4.3.2 N2流量对Ti-W-N复合膜表面形貌的影响
4.3.3温度对Ti-W-N复合膜表面形貌的影响
4.4 Ti-W-N复合膜显微硬度分析
4.4.2 N2流量对Ti-W-N复合膜显微硬度的影响
4.4.3温度对Ti-W-N复合膜显微硬度的影响
4.5 Ti-W-N复合膜结合力分析
4.5.1 W含量对Ti-W-N复合膜结合力的影响
4.5.2 N2流量对Ti-W-N复合膜结合的影响
4.5.3温度对Ti-W-N复合膜结合力的影响
4.6 Ti-W-N复合膜摩擦系数分析
4.6.2 N2流量对Ti-W-N复合膜摩擦系数的影响
4.6.3温度对Ti-W-N复合膜摩擦系数的影响
4.7 Ti-W-N复合膜的耐蚀性分析
4.7.2 N2流量对Ti-W-N复合膜电化学性能的影响
4.7.3温度对Ti-W-N复合膜电化学性能的影响
4.8本章小结
第5章TiN/W-N多层膜的制备及性能研究
5.2调制周期对TiN/W-N多层膜结构与性能的影响
5.2.2不同调制周期的TiN/W-N多层膜断口及表面形貌分析
5.2.3调制周期TiN/W-N多层膜显微硬度的影响
5.2.4调制周期对TiN/W-N多层膜结合力的影响
5.2.5调制周期对TiN/W-N多层膜摩擦系数的影响
5.3调制比对TiN/W-N多层膜结构与性能的影响
5.3.2不同调制比的TiN/W-N多层膜断口及表面形貌分析
5.3.3调制比TiN/W-N多层膜显微硬度的影响
5.3.4调制比对TiN/W-N多层膜结合力的影响
5.3.5调制比对TiN/W-N多层膜摩擦系数的影响
5.4本章小结
第6章结论
参考文献
致谢