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声明
第1章 绪论
1.1 课题背景
1.2 MOSEFT模型的重要性
1.3 MOSEFT模型的研究现状
1.4 论文的主要工作
1.5 论文的结构
第2章 MOSFET器件的模型
2.1 MOSFET模型的要求
2.2 MOSFET模型的研究流程
2.3 MOSFET模型历史
2.4 MOSFET模型发展趋势
第3章 MOSFET射频级建模
3.1 MOSFET的等效电路的形成
3.2 MOSFET的高频特性和外部元件建模
3.3 MOSFET本征元件建模
3.4 非准静态(NQS)效应
第4章 MOSFET的小信号等效电路模型和参数提取技术
4.1 小信号S参数的测试
4.1.1 测试仪器的连接
4.1.2 网络分析仪的校准
4.1.3 MOSFET小信号S参数测试结果
4.2 焊盘参数的剥离方法
4.3 小信号模型的选取
4.3.1 忽略衬底效应的小信号等效电路模型
4.3.2 考虑衬底效应的小信号等效电路模型
4.4 参数的提取
4.4.1 模型寄生串联电阻的提取
4.4.2 衬底部分参数的提取
4.4.3 本征部分参数提取
4.4.4 参数优化
4.5 参数的提取结果验证
4.5.1 Agilent IC—CAP器件建模软件和半分析法的程序编写
4.5.2 串联电阻Rg,Rd和Rs的初始值的设定
4.5.3 本征部分元件参数的提取结果
4.5.4 本征部分元件参数的提取结果
第5章 MOSFT大信号非线性等效电路模型及参数提取技术
5.1 非线性模型的重要性
5.2 常用非线性模型的种类
5.2.1 非线性物理模型
5.2.2 非线性测量模型
5.3 MOSFET的非线性等效电路模型的选取
5.4 MOSFET的直流I—V特性模型
5.4.1 MOSFET的直流I—V特性模型的建立
5.4.2 线性区漏电导gdO
5.4.3 饱和区漏电导gds
5.4.4 临界饱和电压Vpk以及函数φ
5.4.5 Ids(Vgs,Vds)的外部特性模型
5.5 MOSFET的电容特性模型
5.5.1 栅—源电容Cgs(Vgs,Vds)
5.5.2 栅—漏电容Cgd(Vgs,Vds)
5.5.3 漏—源电容Cds(Vgs,Vds)
5.6 MOSFET的大信号模型参数实际提取与模型仿真验证
5.6.1 MOSFET的I—V特性曲线测量
5.6.2 参数提取与曲线拟合
5.7 结论
第6章 结论
参考文献
附录
致谢
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