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声明
第1章绪论
1.1课题的研究背景
1.2课题研究的现状和存在的问题
1.3课题研究的内容
第2章测试平台的原理
2.1电磁兼容的介绍
2.1.1电磁兼容的组成
2.1.2电磁兼容测试
2.2测量的原理
2.2.1 TEM暗小室的测量原理
2.2.2近场测试的原理
第3章系统的概述
3.1设计概述
3.2开发工具
3.2.1 Labwindows
3.2.2 HFSS
3.2.3 GPIB
3.3抗干扰度测试的步骤
第4章平台的硬件校正
4.1 TEM暗小室的硬件校正
4.1.1 TEM暗小室的设置
4.1.2 TEM暗小室的校准
4.1.3衰减器的校正
4.2进场测试的硬件校正
4.2.1近场测试的设置
4.2.2探头的校正
4.2.3探头的电磁场
第5章平台的软件设计
5.1抗干扰度测试的结构
5.2评判错误的准则
5.3软件的算法
5.4测试的参数
5.5 TEM暗小室测试功能
5.6近场测试功能
5.7反转芯片的抗干扰度测试
5.7.1在TEM暗小室平台中的测试
5.7.2在近场测试平台中的测试
第6章软件的扩展
6.1放射测试
6.1.1放射测试的设置
6.1.2放射测试功能
6.1.3反转器的辐射测试
6.2探头的校正
6.2.1探头校正的设置
6.2.2探头校正功能
第7章结束语
参考文献
致谢
作者在攻读硕士学位期间发表的学术论文
附 录