声明
摘要
第1章绪论
1.1引言
1.2磁记录简介
1.2.1磁记录材料发展历程
1.2.2磁存储技术简介
1.3 FePt1-xRhx材料
1.3.1 FePt材料简介
1.3.2 FeRh材料简介
1.3.3 FePt1-xRhx材料简介
1.4论文的选题背景和安排
第2章薄膜的制备与表征方法
2.1薄膜样品的制备
2.1.1磁控溅射原理及装置
2.1.2靶材的选取
2.1.3基片的选择与清洗
2.2样品的表征
2.2.3 X射线光电子能谱(XPS)
2.2.4原子力显微镜(AFM)
2.2.5综合物性测量系统(PPMS)
第3章FePt薄膜的制备与磁性研究
3.1引言
3.2 L10有序相FePt薄膜的制备
3.2.1 Cr/Pt缓冲层的FePt薄膜制备
3.2.2 Pt缓冲层的FePt薄膜制备
3.3 FePt薄膜的测试和表征
3.3.1 FePt薄膜的物象表征和结构分析
3.3.2 FePt薄膜的磁性能分析
3.4本章小结
第4章FeRh及FePt1-xRhx薄膜的制备与磁电性研究
4.1引言
4.2 B2有序FeRh薄膜的制备
4.3 FeRh薄膜的测试和表征
4.3.1 FeRh薄膜的物象表征和结构分析
4.3.2 FeRh薄膜的磁性能分析
4.3.3 FeRh薄膜的输运特性分析
4.4 FePt1-xRhx薄膜的制备
4.5 FePt0.5Rh0.5薄膜的测试和表征
4.5.2 FePt0.5Rh0.5薄膜的磁性能分析
4.6本章小结
第5章FePt/FePt0.5Rh0.5双层膜的制备与磁性研究
5.1引言
5.3 FePt/FePt0.5Rh0.5双层膜的测试和表征
5.3.1 FePt/FePt0.5Rh0.5双层膜的物象表征和结构分析
5.3.2 FePt/FePt0.5Rh0.5双层膜的磁性能分析
5.4本章小结
第6章全文总结
致谢
参考文献
附录