中小尺寸LCD控制芯片低功耗可测性设计与静态时序分析

摘要

本文讨论的内容是针对中小规模液晶显示应用而设计的一款图形显示控制芯片，对该芯片的低功耗和可测性设计进行研究，提出了完整的低功耗和可测性设计方案。在不同的设计层次，结合使用了动态功耗管理、存储器分块、预计算技术等多种流行的低功耗设计技术，以极低的面积开销十分有效的降低了芯片正常工作模式的功耗。芯片的测试采用扫描测试与MBIST测试相结合的方案。通过增加少许电路结构，解决了由于内部多时钟以及多个嵌入式存储器模块的结构带来的影响可测性要求的问题。全芯片总共构造16条扫描链，使用Synopsys TetraMAX完成自动测试图形生成(ATPG)。通过对错误仿真分析表明，扫描测试达到了较高的测试覆盖率。可测性设计中也充分考虑了低功耗的要求，如扫描测试状态下关闭存储器读写时钟，禁止存储器的读写操作；MBIST测试状态下关闭所有功能模块时钟以及尚未工作的MBIST模块时钟。这些措施都十分明显的地降低了测试过程中的功耗浪费。本文最后给出了可测性和低功耗设计下对LCD控制芯片分别进行版图前和版图后的静态时序分析的结果，结果表明芯片完全满足设计时序，达到设计性能的要求。

目录

文摘

英文文摘

1 绪 论

2 中小尺寸LCD控制芯片系统设计简介

3 中小尺寸LCD控制芯片可测性设计

4 中小尺寸LCD控制芯片低功耗设计

5 系统静态时序分析

6 总结

致 谢

参考文献

附录1 作者在攻读硕士学位期间发表的论文