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激光调阻机测控系统的研制

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1 绪论

1.1 引言

1.2 激光调阻机概述

1.3 激光调阻机的研究现状及意义

1.4 课题的提出及主要研究内容

2 激光调阻机测控系统的总体规划

2.1 电阻测量基本原理

2.2 测控系统的总体规划

3 激光调阻机测控系统的硬件设计

3.1 恒流源板的硬件设计

3.2 AD采集卡的选型

3.3 探针板的设计

3.4 矩阵控制板的硬件设计

4 激光调阻机测控系统软件设计

4.1 恒流源板软件设计

4.2 矩阵控制板软件设计

5 测控系统的调试

5.1 硬件和软件的调试

5.2 板卡质量检测平台的设计

6 结论

致谢

参考文献

附 录 硕士学位期间发表论文

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摘要

随着电子及信息技术的高速发展,电子产品朝着小型化发展已是大势所趋,而厚膜混合集成电路是实现电子装备微型化的重要途径。厚膜电阻是厚膜混合集成电路中的一种重要的元器件,由于其制作工艺自身的特点,生产出的厚膜电阻的阻值存在较大的误差,而激光调阻机是非常理想的对厚膜电阻进行阻值调整的自动化设备。
  测控系统是激光调阻机的核心部分,负责在调阻过程中采集相关的数据和控制各个子系统,其性能的好坏直接关系到激光修调的精度和效率,它由恒流源板、AD采集板卡、探针板和矩阵控制板这几部分组成,本文主要围绕这几部分进行研究和设计工作。
  本文首先分析了伏安测阻法和开尔文测阻法的基本原理,然后对测控系统的功能进行了分析,提出了项目的总体规划。其次分析了恒流源电路的基本原理,并针对本项目提出了合适的设计方案,完成了恒流源板的硬件设计、散热设计和软件设计。根据激光调阻机的需求,选择了合适型号的AD采集卡,设计了探针板。为了满足单次装载能够修调多个厚膜电阻的需要,设计了矩阵控制板,同时引入了CPLD,简化了电路的设计。恒流源板和矩阵控制板都设计了RS-485接口,方便与上位机进行通讯,同时都选择microchip公司的PIC18F4580单片机作为主控芯片。最后,为了提高板卡生产的可靠性,设计了质量检测平台。

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