摘 要
Abstract
绪 论
1.1 课题研究背景及意义
1.2 考虑寄生参数影响的开关特性研究现状
1.3 本课题主要研究内容
第2章 MOSFET开关损耗数学建模
2.1 功率MOSFET器件非线性影响因素
2.1.1 转移特性的非线性
2.1.2 MOSFET极间寄生电容的非线性
2.2 开关损耗的数学建模
2.2.1 开通过程
2.2.2 关断过程
2.3 开关损耗模型的仿真验证
2.4 本章小结
第3章 驱动速度优化设计
3.1 BOOST电路开通约束条件研究
3.1.1开通振荡约束
3.1.2共源极电感反馈约束
3.1.3 开通驱动电阻选取步骤
3.2 BOOST电路关断状态分析及约束条件研究
3.2.1最大 约束
3.2.2关断电压应力约束
3.2.3 关断电阻选取步骤
3.3 本章小结
第4章 电路寄生参数提取
4.1 电路寄生参数来源及计算方法
4.1.1 寄生参数的来源
4.1.2 寄生参数计算方法
4.2 寄生参数软件提取精度验证
4.3 PCB走线寄生参数影响因素分析
4.4 本章小结
第5章 寄生参数影响验证
5.1 BOOST电路实验平台搭建
5.2 器件模型精度验证
5.2.1 MOSFET器件模型精度验证
5.2.2 二极管模型精度验证
5.2.3 器件模型验证结论
5.3 开关波形仿真与实测比较
5.4 温升实测与仿真验证
5.5 本章小结
结 论
参考文献
哈尔滨工业大学学位论文原创性声明及使用授权说明
致 谢