声明
摘要
第一章 绪论
1.1 研究背景
1.2 金属-绝缘体颗粒膜和巨霍尔效应
1.2.1 金属-绝缘体颗粒膜系统的微观结构
1.2.2 金属-绝缘体颗粒膜中的巨霍尔效应
1.3 理论背景
1.3.1 逾渗理论
1.3.2 局域量子干涉理论
1.3.3 颗粒膜系统的电输运理论
1.4 本论文的主要工作
参考文献
第二章 样品的制备和分析测试方法
2.1 颗粒膜的制备
2.1.1 磁控溅射的基本原理
2.1.2 实验过程以及实验参数
2.2 微观结构的表征以及电输运性质的测量
参考文献
第三章 Cu-ZnO的微观结构和电输运性质研究
3.1 实验方法
3.2 Cu-ZnO颗粒膜的结构表征
3.2.1 SEM分析和讨论
3.2.2 XRD分析和讨论
3.2.3 XPS分析和讨论
3.3 Cu-ZnO颗粒薄膜的电输运特性
3.3.1 电阻率和经典逾渗阈值的确定
3.3.2 磁电阻
3.3.3 霍尔效应的测量结果及分析
3.3.4 实验结果分析
3.4 本章小结
参考文献
第四章 Mo-Al2O3颗粒薄膜的电输运性质
4.1 实验方法
4.2 Mo-Al2O3样品的微结构与电输运性质分析
4.2.1 SEM分析与讨论
4.2.2 Mo-Al2O3的电阻率和磁电阻
4.2.3 霍尔电阻
4.3 本章小结
参考文献
第五章 Co与Co-ZnO的微观结构和电输运性质研究
5.1 Co膜的制备方法
5.2 Co的微观结构与电输运性质分析
5.2.1 SEM分析
5.2.2 XRD分析
5.2.3 电输运性质的分析和讨论
5.3 Co-ZnO薄膜实验分析
5.3.1 Co-ZnO的微观结构
5.3.2 Co-ZnO的电输运性质
5.4 本章小结
参考文献
第六章 总结
硕士期间发表论文
致谢