Dept. of Comput. Sci. Eng., Czech Tech. Univ., Prague, Czech Republic;
机译:通过反转提高伪随机故障覆盖:测试点架构研究
机译:低功耗BIST TPG,可实现较高的故障覆盖率
机译:射频LNA的基于峰值检测器的BIST故障覆盖率分析
机译:改进列匹配BIST中伪随机相位的故障覆盖率
机译:容错传感器覆盖范围,以最小的成本实现所需的覆盖范围
机译:用于改善非球面光学元件表面质量的伪随机路径生成算法和策略
机译:列匹配BIsT的伪随机码型发生器设计