Evans East, East Windsor, New Jersey 08520;
机译:通过SIMS循环研究硅中砷注入剂量的研究
机译:基于硅中浅层砷植入物的MEIS分析的超低能量SIMS轮廓的校准校正(会议论文)
机译:基于MEIS分析的超低能SIMS轮廓的校准校正,用于硅中砷浅注入
机译:测定XAFs和SIMS在硅中重量剂砷植入物中沉淀的与取代砷的比例
机译:通过砷和锑的离子注入,提高了劣质硅中少数载流子的寿命。
机译:西北地区大剂量无机砷暴露者体内砷代谢基因多态性与砷致皮肤损伤的关系
机译:低能量硼和砷植入物的分子动力学模拟硅
机译:低能硼和砷注入硅的分子动力学模拟