Department of Chemical Engineering and Materials Science, University of Minnesota, Minneapolis, MN, 55455, U.S.A.;
机译:用球差校正透射电子显微镜观察a / nc-Si:H膜中的Si纳米晶体
机译:通过像差校正透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜和电子能量损失谱分析了对Si(001)上高k氧化镧薄膜的退火效应
机译:SiO2 / Si(100)界面通过球差校正高分辨率透射电子显微镜的首次观察。
机译:了解使用球形像差校正透射电子显微镜的A / NC-Si:H膜中Si纳米能器的结构
机译:透射电子显微镜分析图案化的坡莫合金膜中的磁化反转过程,以及掺杂了delta(3)的硒化锌:碲化物系统中的掺杂剂纳米团簇。
机译:使用像差校正的扫描透射电子显微镜用3nm精度得到3nm精度的整个安装真核细胞中的金标记蛋白的三维位置
机译:球形和色差校正低压高分辨率透射电子显微镜和光谱法测量低维电子射线敏感物体的性能