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A Know Good Die (KGD) Solution and Wafer Level Burn-in and Testing Technology

机译：已知管芯（KGD）解决方案以及晶圆级老化和测试技术

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来源
《Semicon China 2001 Technical Symposium Mar 28-29, 2001, Beijing, China 》|2001年|161-161|共1页
会议地点 Beijing(CN)
作者
Dan Kang;
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作者单位

(Missing);

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正文语种 eng
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