Dept. of Comput. Sci., Ioannina Univ.;
机译:高效的部分扫描单元选通,可用于基于低功耗扫描的测试
机译:使用停留测试形成标准扫描电路中过渡故障的基于扫描的测试
机译:低开销的可测试性设计,用于基于扫描的延迟故障测试
机译:高效的多相测试集嵌入,用于基于扫描的测试
机译:用于基于扫描的统计时序缺陷测试的成本降低和测试质量控制。
机译:RL-SKAT:关于遗传力和布景测验的准确而有效的分数测验
机译:54.1关于在功能操作条件下进行测试的具有可到达状态的基于扫描的测试集的生成
机译:基于扫描的切换测试