UNICAMP, CCS and FEEC, CEP. 13083-970, CP. 6061, Campinas - SP, Brazil;
SAWDES r. Djalma Campos Padua 31, Campinas-SP, Brazil;
SD WIN-TECH, 9-3 block, Ochang Science Industrial Complex, Cheongwon, Cungbuk, Korea;
机译:使用表面声波谐振器实验确定薄膜AIScN的电声特性
机译:氧化铝膜对ZnO薄膜表面声波器件表面声波特性的影响
机译:用于表面声波谐振器的LiNbO_3薄膜的结构,电学和压电性能
机译:用表面声波谐振器的帮助研究TiO2薄膜的声学特性
机译:表面声波技术用于表征微孔硅酸盐薄膜的多孔性能。
机译:表面声波(SAW)谐振器用于监测修整膜的形成
机译:表面声波和亚表面声学显微成像对薄膜粘附的局部研究