IST-Hokkaido Univ mian_wei@eis.hokudai.ac.jp;
RIES-Hokkaido Univ;
Pusan Natl Univ;
Pusan Natl Univ;
Pusan Natl Univ;
Univ. Tokyo;
Univ. Tokyo;
IST-Hokkaido Univ RIES-Hokkaido Univ;
IST-Hokkaido Univ RIES-Hokkaido Univ;
机译:La掺杂的BaSnO_3透明氧化物半导体中载流子迁移率的厚度依赖性
机译:透明导电La掺杂BaSnO_3外延膜中依赖成分的金属-半导体跃迁
机译:透明钙钛矿半导体BaSnO_3和SrTiO_3外延薄膜的光电导性
机译:一种透明氧化物半导体,LA:BasnO_3
机译:透明非晶氧化物半导体的迁移率间隙内的电子结构。
机译:钙钛矿氧化物作为透明半导体:审查
机译:通过金属薄膜的热氧化获得的一些透明氧化物半导体的物理性质的研究