首页> 外文会议>2018年第65回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集 >ナノ加工を用いたBi ワイヤーのゼーベック係数および抵抗率の測定
【24h】

ナノ加工を用いたBi ワイヤーのゼーベック係数および抵抗率の測定

机译:纳米处理测量锡线的塞贝克系数和电阻率

获取原文

摘要

熱電変換材料において、形状の低次元化により無次元性能指数が改善するとの理論計算が示されており1)、Bi ナノワイヤーの抵抗率およびホール測定に関する報告がある2)。しかし、ゼーベック係数の測定は報告されていないため、本研究では、集束イオンビームを用いて切削および局所成膜といったナノ加工を行うことにより、Bi ナノワイヤーのゼーベック係数および抵抗率の測定できる電気接合技術を開発した。本開発技術を検証するため、バルク特性を有するマイクロサイズのワイヤー直径1.41μm、長さ2,469μm のBi ワイヤーを用いて、ゼーベック係数および抵抗率の測定を行った。
机译:理论计算表明,通过降低热电转换材料的形状可以改善无量纲的品质因数。 1),并且有关于Bi纳米线2)的电阻率和空穴测量的报道。但是泽贝 由于尚未报告该系数的测量值,因此本研究使用聚焦离子束进行切割和定位。 通过执行纳米处理(例如成膜)来测量Bi纳米线的塞贝克系数和电阻率 我们已经开发出一种可确定的电焊技术。具有整体特性的微电池可验证该开发技术 使用直径为1.41μm,长度为2,469μm的Bi线的塞贝克系数和烧蚀。 测量电阻。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号