atomic force microscope; positioning; piezoelectric element; induced charge feedback;
机译:变温扫描探针显微镜中样品探针的传热机理及温度对隧穿电流的影响
机译:通过基于扫描探针显微镜的光刻技术制造的双侧栅无结晶体管的收缩机制
机译:离散时间修改的滑模,接近时间最优伺服机构,用于基于扫描探针显微镜的数据存储
机译:用平行机构扫描探针显微镜的XYZ-阶段
机译:使用扫描探针显微镜探测低维无机材料的微观特性。
机译:通过基于扫描探针显微镜的光刻技术制造的双侧栅无结晶体管的收缩机制
机译:变温扫描探针显微镜中样品探针的传热机理及温度对隧穿电流的影响
机译:扫描探针光刻。扫描隧道显微镜Tipparameters对自组装单层光刻图案的影响