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Scanning mechanism for scanning probe microscope and scanning probe microscope

机译:扫描探针显微镜的扫描机构和扫描探针显微镜

摘要

A scanning probe microscope scanning mechanism has a Z stage for moving an object to be moved along the Z-axis. The Z stage includes an insulating board, a Z-direction moving actuator fixed to the insulating board, wires for the application of a voltage to the Z-direction moving actuator, and electrical connecting portions for electrically connecting the wires to the Z-direction moving actuator. The Z-direction moving actuator has a piezoelectric element that can expand and contract along the X-axis. The object is mounted on the free end of the piezoelectric element. The electrical connecting portions are provided at the fixed end of the piezoelectric element.
机译:扫描探针显微镜扫描机构具有Z台,该Z台用于沿Z轴移动要移动的物体。 Z台包括绝缘板,固定到绝缘板上的Z方向移动致动器,用于向Z方向移动致动器施加电压的电线以及用于将电线电连接到Z方向移动的电连接部。执行器。 Z方向移动致动器具有可沿着X轴伸缩的压电元件。物体安装在压电元件的自由端上。电连接部设置在压电元件的固定端。

著录项

  • 公开/公告号US7348571B2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 YOSHIHIRO UE;

    申请/专利号US20050262537

  • 发明设计人 YOSHIHIRO UE;

    申请日2005-10-28

  • 分类号G21K5/10;G02B21/26;H01J37/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:10:16

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