c/o BIAS, Klagenfurter Str. 2, D-27721 Bremen, Germany;
rnc/o BIAS, Klagenfurter Str. 2, D-27721 Bremen, Germany;
shape; reflectometry; white light; nanometer resolution; topometry; freeform;
机译:通过亚纳米分辨率的光的自旋霍尔效应检测表面粗糙度
机译:通过亚纳米分辨率的光的自旋霍尔效应检测表面粗糙度
机译:法布里-珀罗干涉仪确定离反射表面的亚纳米距离
机译:亚纳米分辨率,用于使用白光检查反射表面
机译:在RMC的SLOWPOKE-2设施中发展了中子射线照相术,以检查CF188飞行控制表面。
机译:反射成像提高了光片显微镜的时空分辨率和采集效率
机译:基于GpGpU的结构白光表面检测
机译:一些白色表面的光谱反射率和双向反射特性的测定