Helmut Schmidt University University of the Federal Armed Forces Holstenhofweg 85, D-22043 Hamburg, Germany;
Helmut Schmidt University University of the Federal Armed Forces Holstenhofweg 85, D-22043 Hamburg, Germany;
scatterometry; spot profile; fourier optics; curvature; illumination; rough surfaces;
机译:粗糙表面散射法中的反问题
机译:穆勒矩阵散射法研究粗糙表面和透明双折射样品
机译:穆勒矩阵散射法研究粗糙表面和透明双折射样品
机译:粗表面散射法在宏观表面曲率的光学补偿
机译:粗糙表面的光学相互作用。
机译:基于双调制法的基于表面等离子体共振的光纤曲率传感器的温度补偿
机译:基于表面谐振的光纤曲率曲率传感器,通过双调制方法进行温度补偿
机译:具有L(1)曲率束缚的曲面的Bilipschitz粗糙法线坐标