Center for X-Ray Optics, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, CA 94720;
index of refraction; EUV; soft x-ray; Sc;
机译:测定20-1000 eV范围内的films膜的光学常数
机译:使用透射法测量2-830 eV光谱范围内的optical光学常数,并汇编镧,ter,钕和g的修正光学常数
机译:溅射铍薄膜的光学常数从光谱范围内的光吸收测量确定20.4-250eV
机译:50-1300EV范围内钪的光学常数的测量
机译:铯D1跃迁的绝对光学频率测量及其对α(精细结构常数)的影响。
机译:假设持续光散射对瓦尔萨尔瓦(Valsalva)机动期间使用NIRS进行的血红蛋白浓度测量的影响
机译:50-1300EV范围内钪的光学常数的测量