Department of Electrical Computer Engineering, Louisiana State University Baton Rouge, LA USA 70803-5901;
noise in CMOS op-amp; MOS noise model; power supply current testing; analog CMOS; fault injection;
机译:混合信号CMOS集成电路中数字电路特性与电源噪声谱之间关系的研究
机译:新颖的基于电流传感器的内置CMOS集成电路$ I_ {rm DDQ} $测试方案
机译:利用动态电源电流的小波分析对模拟电路进行面向缺陷的测试
机译:CMOS模拟集成电路的组合噪声分析与电源电流测试
机译:适用于非常深的亚微米CMOS电路的新型动态电源电流测试方法。
机译:用于超低噪声CMOS图像传感器的基于多采样的信号读取电路的降噪效果
机译:基于CMOS微处理器电路桥接故障的电源电流试验方法