Mechanical Materials and Aerospace Engineering University of Central Florida 4000 CentralFlorida Blvd Orlando FL 32816-2450;
机译:使用FIB-SEM系统进行TEM标本制备的原位提升专用技术
机译:用FIB制备金属材料TEM样品时FIB引起的损伤的TEM研究
机译:采用新型FIB设计的聚酰亚胺上铝膜原位TEM应变实验
机译:原位提升FIB样品准备磁性材料的TEM
机译:TEM样品制备过程中硅中聚焦离子束损伤的计算和实验量化。
机译:用于盒式低温TEM的低温FIB样品制备
机译:具有FIB的样品制备方法,用于材料科学的原位TEM观测
^ ^ MDASH; FIB用玻璃机械手^ ^ mdash制备TEM样本;