Cerium Laboratories LLC, 5204 E. Ben White Blvd. MS-512, Austin, TX 78741;
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机译:使用FIB的TEM样品制备技术在半导体器件中的最新进展
机译:在GA FIB TEM薄片制备14 nm FinFET器件中的缓解窗帘术
机译:用FIB制备金属材料TEM样品时FIB引起的损伤的TEM研究
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机译:用Cryo-Fib铣削稀释大型生物细胞进行冷冻眼镜表征
机译:两次翻转 - 避免在FIB制备的纳米电子器件的TEm样品中的铣削窗帘。