EELS EFTEM imaging: Instrumentation, Applications and Artifacts

著录项

• 来源
  《Microscopy and microanalysis.;Microscopy and microanalysis.》|2010年|p.1946-1947|共2页
• 会议地点 Portland OR(US)
• 作者

  G. Kothleitner;

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• 作者单位

  Institute f. Electron Microscopy (FELMI), Graz University of Technology Steyrergasse 17, 8010 Graz, Austria;

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• 会议组织
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类 显微镜;
• 关键词

• 入库时间 2022-08-26 14:10:07