CEA/LETI, 17 avenue des Martyrs, 38054 Grenoble, France;
CD; AFM; SEM; precision; roughness; LER; LWR; accuracy;
机译:使用CD-AFM和倾斜AFM测量EUV光掩模结构的CD和侧壁轮廓
机译:用于全分辨率场的自动立体3D / 2D和2D / 3D LCD的定向开关BLU-用于3D / 2D和2D / 3D LCD显示器的定向BLU
机译:3D光学轮廓测定氧化锆植入物的表面粗糙度和3D扫描地形的分析 - invitro研究
机译:3D集成中硅通孔侧壁粗糙度的电气建模和分析
机译:异步3D(Async3D):3D异步电路的设计方法和分析
机译:如何通过协方差分析在相关尺度上选择2D和3D粗糙度参数
机译:3D电子产品:3D侧壁集成超高密度硅纳米线用于堆叠通道电子(ADV。电子。Matter。7/2019)