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【24h】

Systematic Investigation of Defect-Mediated Photoluminescence Through Radiation-Induced Displacement Damage - (PPT)

机译:通过辐射诱导的位移损伤的系统研究缺陷介导的光致发光 - (PPT)

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摘要

Photoluminescence emission and lifetime can be used to detect proton-induced damage in YBO_3:Ce~(3+). – No shifts, no relative peak changes – only observed overall decrease of emission intensity – Only able to get effects at high fluences. The damage-induced lifetime is concentration dependent. – Allows us to develop design parameters for which phosphor concentrations are optimal for detecting damage.
机译:光致发光发射和寿命可用于检测质子诱导的YBO_3:Ce〜(3+)造成的损伤。 - 没有班次,没有相对峰值变化 - 只观察到发射强度的总体减少 - 只能在高分流量下获得效果。损伤诱导的寿命是浓度依赖性。 - 允许我们开发荧光体浓度对于检测损坏的最佳设计参数。

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