ST Microelectronics, Crolles, France;
32nm; Static Power; correlation coefficients; covariance method; leakage variability; statistical leakage estimation;
机译:低泄漏应用功率门控电路的半定制设计方法
机译:低泄漏应用功率门电路的半定制设计方法
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机译:用于复杂32nm电路中有效统计泄漏估计的栅极电平法
机译:使用行业标准的设计工具,对异步无效约定电路的门级流水线优化,能量估计和测试技术设计。
机译:在非电离辐射水平下进行剂量学评估的微波炉射频功率泄漏估计
机译:复杂32nm电路中有效统计泄漏估计的门级方法