Vor nunmehr 17 Jahren verabschiedete das IEEE Konsortium - Institute of Electrical and Electronics Engineers - auf Basis eines Vorschlages der Joint Test Action Group (JTAG) mit dem Standard 1149.1 die Grundlage fur ein neues digitales Testverfahren fur elektronische Baugruppen, der Boundary Scan Technologie. Es findet seitdem grosse Verbreitung in vielen Bereichen der Elektroindustrie. Gerade bei den immer komplexer werdenden digitalen Baugruppen ist der Einsatz von Boundary Scan zur unausweichlichen Testmethode geworden. Nicht zuletzt ist dies der gestiegenen Kompaktheit der Gehauseformen geschuldet, bei denen man mit dem In-Circuit Tester zunehmend an dessen physikalische Grenzen stosst. So ist zu erwarten, dass eines Tages Boundary Scan den In-Circuit Test als das elektrische Testverfahren fur Baugruppen generell ablosen wird. Oder doch nicht?
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