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Phase determination of bulk and surface contributions to second-harmonic generation from the Si(001) surface

机译:从Si(001)表面的块状和表面贡献的相位确定对二次谐波产生

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摘要

We determine the relative phase between bulk and surface contributions to second-harmonic generation (SHG) from Si(001) by exploiting the difference between right- and left-handed q-polarization, and by frequency-domain interferometric SHG.
机译:通过利用右手和左手Q偏振之间的差异,以及通过频域干涉测量SHG来确定来自SI(001)的批量和表面贡献之间的相对相位与SI(001)之间的相对相位。

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