Negative Capacitance; High mobility; Ge-channel; Interface trap charge density;
机译:温度和界面捕获的影响对垂直延伸漏极双栅极Si_(0.5)Ge_(0.5)源隧道FET的模拟/射频和线性的变化
机译:具有界面电荷的亚阈值电流和应变-SI渐变沟道双材料双栅MOSFET的分析模型和电路性能分析
机译:用于长通道未掺杂栅极堆栈周围栅极MOSFET的分析漏极电流模型,包括界面固定电荷
机译:分析漏极电流模型研究界面陷阱电荷对双闸GE铁电FET器件性能的影响(DGGEFEFET)
机译:处理表面状态的传输拐点和电荷陷阱对AlGaN / GaN HFET漏极电流的影响。
机译:在存在随机界面陷阱的情况下16nm栅极高κ/金属栅极体FinFET器件的电特性波动
机译:接口陷阱电荷对无线双金属栅极高k门的影响纳米线FET基于Alzheimer Biosensor
机译:界面陷阱对InpmIsFET跨导和漏极电流的影响。 (重新公布新的可用性信息)