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【24h】

Optische Charakterisierungsmethoden von siliziumbasierten MEMS mit verdeckten Strukturen

机译:隐藏结构硅基MEMS光学特征方法

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摘要

In der Arbeitsgruppe integrierte Siliziumsysteme des Fraunhofer IPMS werden am Standort Cottbus innovative Anwendungen eines neuartigen nanoskopischen elektrostatischen Antriebs (nanoskopic electrostatic drive - NED) untersucht. Eine der vielversprechendsten Anwendungen sind Lautsprecher. Vollstandig aus Silizium gefertigte MEMS-Lautsprecher auf Basis von NED-Biegeaktoren werden vor den akustischen Messungen mechanisch und elektrisch charakterisiert. Beidseitig eingespannte elektrostatisch betriebene in-plane NED-Aktoren werden dabei uber einen Frequenzbereich von 20 Hz bis 20 kHz angeregt. Dabei sind die Strukturen oft verdeckt, was ihre Charakterisierung erschwert. Es werden zerstorungsfreie optische Methoden prasentiert, mit deren Hilfe die Bestimmung der mechanischen Schwingungseigen-schaften einzelner Aktoren ermoglicht wird sowie die Beweglichkeit im verdeckten Zustand nachgewiesen werden kann.
机译:在新颖的纳米镜静电驱动器(纳米级静电驱动NED)的网站Cottbus IPMS中,研究了Fraunhofer IPM的工作组集成硅系统。最有前途的应用程序之一是发言者。完全由基于NED弯曲致动器的硅MEMS扬声器机械地和电以声学测量电动表征。在两侧夹紧静电运行的平面致动器致敏感,频率范围为20Hz至20kHz。结构通常隐藏,这使得它们的表征困难。借助于允许无破坏的光学方法,允许允许各个致动器的机械振动特性的确定,并且可以在隐藏状态下检测移动性。

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