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ENHANCED EMISSION CROSS SECTION AND VSL ANALYSIS OF ERBIUM COUPLED SILICON NANOCRYSTALS

机译:增强铒耦合硅纳米晶体的增强横截面和VSL分析

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摘要

Erbium emission cross section can be significantly increased when silicon nanocrystals are inserted into matrix silica substrates where Erbium ions are present. Here we report on Erbium cross section enhancement up to 4×10{sup}(-20) cm{sup}2 which is order of magnitude larger than for Er in Si or SiO{sub}2.
机译:当硅纳米晶体插入存在铒离子的基质硅基纤维素中时,可以显着增加铒发射横截面。在这里,我们报告erbium横截面增强型高达4×10 {sup}( - 20)cm {sup} 2,其比Si或siO {sub} 2中的rs大的数量级大。

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