素線軌跡を考慮した CIC 導体内の電流分布と素線変形に関する検討

摘要

ケーブル·イン·コンジット（CIC）導体の性能低下の原因の一つとして，導体を構成する素線の一部に応力が働くことによるキンク変形が考えられている。しかし，キンク変形の発生機構は明確にされていない。そこで，本研究では，応力の発生源として電磁力に着目し，導体内の電磁力と素線変形の関連性について検討した。具体的には，実際の導体の素線軌跡を用いて導体内の電流分布を求め，局所的な梁モデルに特定の荷重を印加した際の素線の曲げ変形を評価した。