Diffraction grating; Ellipsometry; Line edge roughness; Mueller matrix; Multi-azimuth method;
机译:西非C波段和Ku波段的星载测高和散射测量背向散射特征
机译:用于检测受到检测器噪声影响的抗蚀剂光栅的特定线边缘粗糙度的光学散射测量系统
机译:通过傅立叶光学对周期性线空间结构中的线边缘粗糙度进行建模以改善散射
机译:粗糙度对散射测定签名的影响
机译:氯胺酮对帕金森病的神经签发和新型弦拉动行为量化系统的影响
机译:牙刷磨损对各种类型矩阵树脂复合材料表面粗糙度和光泽的影响
机译:光学临界尺寸参考材料应用的散射特征建模与分析
机译:基于EUV散射测量法测定相粗糙度。