Nanometrology; nanomanufacturing; dimensional metrology; defect analysis; process control; critical dimensions; optical microscope; through-focus; MEMS; NEMS; overlay; FinFet; TSV; photonics; nanodots; nanowires;
机译:基于alpha形状的表面度量和尺寸度量的形态学方法
机译:执行计量的方法,训练机器学习模型的方法,提供包括二维材料的层的方法
机译:非刚性机械零件计量学降维方法的性能研究
机译:纳米电子尺寸计量的TSOM方法
机译:使用光谱元素方法的三维纳米电子器件仿真。
机译:制造二维纳米电子学的标准和可靠方法
机译:基于α形状的表面计量和尺寸测量的形态学方法
机译:用于螺纹和齿轮尺寸测量的先进硬件和软件方法。 CRaDa最终报告