CLC; TFT; Temperature; Stress; Interface trap states; Instability;
机译:界面过量氧对自对准共面InGaZnO薄膜晶体管正偏置温度应力不稳定性的影响
机译:发行人注:“界面过量氧对自对准共面InGaZnO薄膜晶体管的正向温度应力不稳定性的影响” [Appl。物理来吧108,141604(2016)]
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机译:具有正偏压温度应力的CLC NTFT的不稳定作用
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机译:出版商的注意事项:“界面过量氧对自排列共青薄膜薄膜晶体管的正偏压稳定性的影响”苹果酱。物理。吧。 108,141604(2016)