EMI; Flash Memory; Surface-scan method; TEM cell method; electromagnetic compatibility; noise budget;
机译:通过板载和片内噪声测量进行Emi分析的电源噪声建模的实验验证
机译:系统级ESD噪声导致的内存模块中统计IC操作错误的测量和分析
机译:规模化NAND闪存中随机电报噪声统计分布的陷阱数量和陷阱深度位置
机译:闪存EMI噪声测量的统计分析
机译:高速背板链路中与EMI相关的共模噪声分析
机译:3D NAND闪存记忆中的随机电报噪声
机译:缩放NAND闪存随机电报噪声统计分布的陷阱数量和陷阱深度位置
机译:绩效预测海洋噪声测量的高阶统计分析。 sWellEX-3噪声特性的初步分析