Helium Ion Microscope; High resolution; Surface Sensitive; Contamination Reduction; Argon Cleaning;
机译:在氦离子显微镜中模拟纳米结构材料的二次电子发射
机译:扫描电子显微镜和氦离子显微镜图像对比的比较研究
机译:氦离子扫描显微镜中二次电子成像的模型
机译:二次电子模式氦离子显微镜(HIM)成像中提高材料保真度和对比度一致性的技术
机译:使用数字图像处理技术从透射电子显微镜图像中的颤动问题中恢复。
机译:建模通过精确电子通道对比成像获得的位错对比以表征散装材料中的变形机制
机译:扫描电子显微镜与氦离子显微镜图像对比的比较研究
机译:小位错环的电子显微镜图像对比:III。 BCC晶体中非边缘位错环的理论预测。