机译:通过注入氦气的渗出来表征基于SiCl4的微晶硅膜的微观结构
机译:注入氦气的渗出表征非晶态和微晶态硅及相关合金的微观结构
机译:氦气渗出测量以研究通过直流溅射沉积的a-SiC:H薄膜的微观结构
机译:注入氦气的扩散测量表征非晶硅膜的微观结构
机译:氢化非晶硅,微晶硅和硅基合金薄膜的沉积和表征。
机译:通过辉光放电光谱研究掺杂元素来表征非晶硅薄膜。电导率和带隙能量测量的相关性
机译:通过辉光放电光谱研究掺杂元素来表征非晶硅薄膜:电导率和带隙能量测量的相关性
机译:常规铬薄膜,非晶光亮铬沉积(aBCD)薄膜,N +注入aBCD薄膜的表征研究和使用丙酸作为有机添加剂制备aBCD薄膜