DSPI を利用した３次元変形の連続測定法

摘要

DSPI(Digital Speckle Pattern Interferometry)は光干渉を利用した粗面の変形計測法で, サブミクロンオーダーの高感度な全視野計測が可能, 非接触, 非破壊など優れた特徴を持っている．しかし一般的には多次元の変形計測にはレーザとカメラがそれぞれ次元の数だけ必要となり, さらに各カメラの視野を互いに正確に合わせる必要があるため光学系が大変複雑になってしまう．そこで本研究では３色のレーザと一台のカラーカメラを用いた3 次元変形の測定が可能な方法を開発し, 金属の引張試験における破断直前での局所変形域を動的に測定することを目的とした．